Двухзонная камера термических испытаний
【Введение】
Условия окружающей среды оказывают большое влияние на функциональность и надежность электронных компонентов, устройств и систем. Обычного температурного испытания зачастую недостаточно для скорейшего обнаружения скрытых слабых мест. Образцы должны подвергаться множественным ударным изменениям температуры. С помощью камеры для испытаний на термический удар можно добиться чрезвычайно быстрого изменения температуры от –55 °C до +150 °C. Это поможет вам сократить число ранних отказов и повысить надежность вашей продукции. Воспроизводимые, сертифицированные и в ускоренных условиях.
【Стандарт тестирования】
МЭК 60068-2-14 Нет
MIL-STD-810H, метод 503.7
MIL-STD-883L-1, метод 1010.9
ДЖАСО Д 014-4
ЧИТАТЬ ДАЛЕЕ