баннер
Дом

Оборудование для испытаний на горячую и холодную температуру

Оборудование для испытаний на горячую и холодную температуру

  • Thermal Cycling Test(TC) & Thermal Shock Test(TS) Thermal Cycling Test(TC) & Thermal Shock Test(TS)
    Jan 07, 2024
    Thermal Cycling Test(TC) & Thermal Shock Test(TS) Thermal Cycling Test(TC): In the life cycle of the product, it may face various environmental conditions, which makes the product appear in the vulnerable part, resulting in product damage or failure, and then affect the reliability of the product.   A series of high and low temperature cycling tests are done on the temperature change at the temperature variation rate of 5~15 degrees per minute, which is not a real simulation of the actual situation. Its purpose is to apply stress to the test piece, accelerate the aging factor of the test piece, so that the test piece may cause damage to the system equipment and components under environmental factors, in order to determine whether the test piece is correctly designed or manufactured.   Common ones are: Electrical function of the product The lubricant deteriorates and loses lubrication Loss of mechanical strength, resulting in cracks and cracks The deterioration of the material causes chemical action   Scope of application: Module/system product environment simulation test Module/System Product Strife test PCB/PCBA/ Solder Joint Accelerated Stress Test (ALT/AST)...   Thermal Shock Test(TS): In the life cycle of the product, it may face various environmental conditions, which makes the product appear in the vulnerable part, resulting in product damage or failure, and then affect the reliability of the product.   High and low temperature shock tests under extremely harsh conditions on rapid temperature changes at a temperature variability of 40 degrees per minute are not truly simulated. Its purpose is to apply severe stress to the test piece to accelerate the aging factor of the test piece, so that the test piece may cause potential damage to the system equipment and components under environmental factors, in order to determine whether the test piece is correctly designed or manufactured.   Common ones are: Electrical function of the product The product structure is damaged or the strength is reduced Tin cracking of components The deterioration of the material causes chemical action Seal damage   Machine specifications: Temperature range: -60 ° C to +150 ° C Recovery time: < 5 minutes Inside dimension: 370*350*330mm (D×W×H)   Scope of application: PCB reliability acceleration test Accelerated life test of vehicle electric module LED parts accelerated test...   Effects of temperature changes on products: The coating layer of components falls off, the potting materials and sealing compounds crack, even the sealing shell cracks, and the filling materials leak, which causes the electrical performance of components to decline. Products composed of different materials, when the temperature changes, the product is not evenly heated, resulting in product deformation, sealing products cracking, glass or glassware and optics broken; The large temperature difference makes the surface of the product condense or frost at low temperature, evaporates or melts at high temperature, and the result of such repeated action leads to and accelerates the corrosion of the product.   Environmental effects of temperature change: Broken glass and optical equipment. The movable part is stuck or loose. Structure creates separation. Electrical changes. Electrical or mechanical failure due to rapid condensation or freezing. Fracture in a granular or striated manner. Different shrinkage or expansion characteristics of different materials. The component is deformed or broken. Cracks in surface coatings. Air leak in the containment compartment.
    ЧИТАТЬ ДАЛЕЕ
  • Испытание надежности светодиодов для связи Испытание надежности светодиодов для связи
    Oct 09, 2024
    Испытание надежности светодиодов для связиОпределение неисправности светодиода связи:Обеспечьте фиксированный ток для сравнения выходной оптической мощности и определения неисправности, если ошибка превышает 10 %.Испытание на механическую стабильность:Испытание на удар: 5 импульсов на ось, 1500G, 0,5 мс.Испытание на вибрацию: 20G, 20 ~ 2000 Гц, 4 мин/цикл, 4 цикла/осьИспытание на термоудар жидкости: 100 ℃ (15 с) ←→ 0 ℃ (5 с)/5 цикловТермостойкость припоя: 260 ℃/10 секунд/1 разАдгезия припоя: 250 ℃/5 секунд.Испытание на долговечность:Испытание на ускоренное старение: 85 ℃/мощность (максимальная номинальная мощность)/5000 часов, 10000 часовВысокотемпературное хранение: максимальная номинальная температура хранения/2000 часов.Испытание на хранение при низкой температуре: максимальная номинальная температура хранения / 2000 часов.Испытание температурного цикла: -40 ℃ (30 минут) ← 85 ℃ (30 минут), RAMP: 10/мин, 500 цикловИспытание на влагостойкость: 40℃/95%/56 дней, 85℃/85%/2000 часов, время запечатывания.Проверка коммуникационного диодного элемента:Температурный скрининговый тест: 85 ℃/мощность (максимальная номинальная мощность)/96 часов. Определение сбоя скрининга: сравните выходную оптическую мощность с фиксированным током и определите сбой, если погрешность превышает 10%.Проверка модуля коммуникационного диода:Шаг 1: Проверка температурного цикла: -40 ℃ (30 минут) ← → 85 ℃ (30 минут), RAMP: 10/мин, 20 циклов, без источника питанияШаг 2: Проверка температуры: 85 ℃/мощность (максимальная номинальная мощность)/96 часов.   
    ЧИТАТЬ ДАЛЕЕ

оставить сообщение

оставить сообщение
Если вы заинтересованы в нашей продукции и хотите узнать более подробную информацию, пожалуйста, оставьте сообщение здесь, мы ответим вам, как только сможем.
представлять на рассмотрение

Дом

Продукты

WhatsApp

связаться с нами