Каковы испытания на надежность светоизлучающих диодов для связи?

Каковы испытания на надежность светоизлучающих диодов для связи?

Определение неисправности светоизлучающих двух трубок связи:

Обеспечьте фиксированный ток для сравнения выходной оптической мощности. Если погрешность превышает 10 %, определяется неисправность.

Испытание на механическую стабильность:

Испытание на удар: 5 импульсов на ось, 1500G, 0,5 мс. Испытание на вибрацию: 20G, 20 ~ 2000 Гц, 4 минуты на цикл, 4 цикла на ось. Испытание на термический удар жидкостью: 100 ℃ (15 секунд) ←→0 ℃ (5 секунд)/5 циклов.

Испытание на долговечность:

Испытание на ускоренное старение: 85 ℃/мощность (максимальная номинальная мощность)/5000 часов, 10000 часов

Испытание на хранение при высокой температуре: максимальная номинальная температура хранения / 2000 часов.

Испытание на хранение при низкой температуре: максимальная номинальная температура хранения / 2000 часов.

Испытание температурного цикла: -40 ℃ (30 минут) ← 85 ℃ (30 минут), RAMP: 10/мин, 500 циклов

Испытание на влагостойкость: 40℃/95%/56 дней, 85℃/85%/2000 часов, время запечатывания.

Проверка коммуникационного диодного элемента:

Температурный скрининговый тест: 85 ℃/мощность (максимальная номинальная мощность)/96 часов. Определение сбоя скрининга: сравните выходную оптическую мощность с фиксированным током и определите сбой, если погрешность превышает 10%.

Проверка модуля коммуникационного диода:

Шаг 1: Проверка температурного цикла: -40 ℃ (30 минут) ← → 85 ℃ (30 минут), RAMP: 10/мин, 20 циклов, без источника питания

Во-вторых: температурный скрининговый тест: 85 ℃/мощность (максимальная номинальная мощность)/96 часов.